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X射線(xiàn)三維顯微鏡（高分辨率CT），利用x射線(xiàn)*的穿透能力，可以在不破壞樣品的情況下，獲得高精度三維圖像，顯示樣品內部詳盡的三維信息，并進(jìn)行結構、密度的定量分析。該技術(shù)可謂當前三維成像技術(shù)中非常有效、非常可靠的手段，通過(guò)高分辨率x射線(xiàn)三維成像系統，還可以獲得樣品微觀(guān)結構的數字化模型，可用于后續相關(guān)的數值模擬等研究工作。

三維重構成像x射線(xiàn)顯微鏡（高分辨率CT），即Micro /Nano CT （Computed Tomography）——計算機斷層掃描，其原理與臨床CT/工業(yè)CT相同，Micro/Nano 表明其分辨率可達到微米/亞微米級別。

3D納米x射線(xiàn)顯微鏡ct（高分辨率ct）Skyscan2214是一款用于顯微樣品三維成像的實(shí)驗室級超高分辨率CT掃描儀,可對直徑為30cm，長(cháng)度40cm樣品的內部結構進(jìn)行3D無(wú)損檢測與重建，對樣品的細節檢測能力（標稱(chēng)分辨率）可達60納米。利用 X 射線(xiàn)無(wú)損成像的特性提供樣品內部結構的三維圖像，并且無(wú)需對相關(guān)區域進(jìn)行切割或切片。