X射線(xiàn)衍射儀是材料學(xué)相關(guān)領(lǐng)域基礎且不能缺少的分析手段,具備無(wú)損、樣品制備簡(jiǎn)單等優(yōu)勢。X射線(xiàn)衍射儀一般主要由X射線(xiàn)光源部分、測角儀、樣品臺、光路系統、探測器五大部分組成。Bruke結合具備優(yōu)異性能的LYNXEYE系列能量色散陣列探測器的優(yōu)勢,在桌面衍射儀這個(gè)平臺上大膽的嘗試了新的結構和運動(dòng)邏輯,強勢推出了一款跨界的多功能桌面式(臺式)衍射系統D6 Phaser
三維X射線(xiàn)顯微鏡 (XRM)SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級三維X射線(xiàn)顯微鏡(XRM),除了保留上一代SKYSCAN2214 <500nm的真正三維空間分辨率和多探測器配置(不超過(guò)4個(gè))等*性能外,該設備在X射線(xiàn)源功率和探測器類(lèi)型方面進(jìn)行了多方面升級,以確保用戶(hù)能夠獲得更大的成像視野和更明亮的圖像數據。
1) 6KW高強度Cu轉靶光源2) 垂直q/qATLAS測角儀Ultra compact design3) Eiger2 R 500k二維探測器4) 液氦低溫系統PheniX cryostat:12K~300K5) 液氮低溫系統:MTC-LOWTEMP液氮溫度到450度6) 環(huán)境加熱高溫:MTC-FURNACE室溫-1100度;X射線(xiàn)衍射儀高分辨透射及PDF散射系統檢測
原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段; 科研支撐、變溫物相分析、變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線(xiàn)衍射儀檢測
原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段;科研支撐、變溫物相分析、變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析;電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。原位X射線(xiàn)衍射儀檢測
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀,采用創(chuàng )造性的達芬奇設計,通過(guò)TWIN-TWIN光路設計,成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù),使用戶(hù)可以進(jìn)行雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測。
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀,采用創(chuàng )造性的達芬奇設計,通過(guò)TWIN-TWIN光路設計,成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù),使用戶(hù)可以進(jìn)行多晶X射線(xiàn)衍射儀檢測。
德國弗萊貝格儀器的XRD-OEM(在線(xiàn)X射線(xiàn)衍射儀--X射線(xiàn)單晶定向儀),主要用于對晶體的定向以及切口/平面形狀和位置的測量,其可以直接集成到研磨或鋸切設備中使用,將測量過(guò)程整合到工業(yè)生產(chǎn)中,解決了由于加工設備和定向測量過(guò)程分開(kāi)而造成的定向誤差等行業(yè)難題。
德國弗萊貝格儀器Quatrz XRD(石英晶體X射線(xiàn)衍射儀--石英棒定向儀)主要應用于對石英棒、硅片和坯料進(jìn)行生產(chǎn)質(zhì)量控制。而根據樣品對象的不同,Quatrz XRD可以分為Quatrz Bar XRD、Quatrz Wafer XRD和Quatrz Blank XRD,即全自動(dòng)石英棒定向儀、全自動(dòng)石英晶圓盤(pán)分析儀和全自動(dòng)石英晶片分選儀三種型號。
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